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多光譜多光軸測試設(shè)備用于校正、測量激光光軸、紅外光軸、可見光軸之間的平行性，設(shè)備能在一定范圍內(nèi)適應(yīng)大跨度光軸和光軸任意位置分布，配備部分附件和軟件，可以檢查與測量可見光學(xué)系統(tǒng)和紅外光學(xué)系統(tǒng)成像質(zhì)量。